Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий
190 руб.
После оплаты заказа Вы сможете скачать все доступные форматы издания в личном кабинете в разделе "Мои книги"
Аннотация
В книге рассмотрены задачи, методы и особенности автоматизированного лабораторного практикума с удаленным доступом (АЛП УД) по исследованию полупроводниковых приборов, приведено описание реализующей его системы АЛП УД «Электроника», в том числе входящего в ее состав аппаратно-программного комплекса (АПК) «Электроника», разработанного на основе технологии корпорации National Instruments в региональном инновационном центре «Центр технологий National Instruments» при ФГОУ ВПО «Сибирский федеральный университет». Приведены задания и методические указания к лабораторным работам по экспериментальному исследованию и моделированию полупроводниковых диодов, стабилитронов, полевых и биполярных транзисторов, включающие измерение их вольтамперных характеристик и параметров, исследование технологического разброса и работы на переменном токе. Издание предназначено для студентов и учащихся технических специальностей вузов, колледжей, профессиональных училищ и лицеев для использования в лабораторном практикуме дисциплины «Электроника» и других родственных дисциплин, выполняемом на базе сетевой лаборатории Сибирского федерального округа с помощью АПК УД «Электроника». Учебное пособие подготовлено в рамках выполнения инновационной образовательной программы по направлению «Информатизация и автоматизированные системы управления», реализуемой в ФГОУ ВПО СФУ в 2007 г. На прилагаемом к книге DVD-ROM находятся интерактивное электронное техническое руководство к АПК УД «Электроника»; демо-версия системы OrCAD 9.1; файлы проектов для математического моделирования полупроводниковых приборов; система компьютерной проверки знаний тестированием с примерами тестовых заданий; 30-дневная версия LabVIEW 8.5; примеры виртуальных приборов.
Характеристики
Издано
|
Издательство «ДМК Пресс» |
Формат(ы)
|
|
Возрастное ограничение
|
Нет |
Вид издания
|
Учебное издание |
Ознакомительный фрагмент
Открыть/скачать фрагмент
337,6 кб
Задать вопрос
Отзывы